| 北京雅世恒源科技发展有限公司 |
| 地址：北京经济技术开发区科创十二街8号院2号楼C座703室 电话：010-88131819 网站：www.ndtek.com |
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企业简介： 北京雅世恒源科技发展有限公司成立于2003年，致力于为广大客户提供高性能的半导体故障检测系统，红外热成像测温系统、红外热成像仪、反射热成像测温设备，以及红外成像检测服务。
公司提供高性能的国产显微测温系统、半导体热点检测系统，反射热成像测温系统。公司产品已广泛应用于多所高校，研究所和高科技企业，助力半导体行业高速发展。 公司是全球知名的红外热像仪制造商-德国英福泰克红外传感与测量技术公司（InfraTec GmbH Infrarotsensorik und Messtechnik）的中国总代理(包括港澳地区)，负责InfraTec红外热像仪、红外成像系统和应用解决方案的技术咨询、产品演示、销售、客户培训、技术支持等业务。 |
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重点产品介绍： Image TR 系列反射热成像测温系统，其原理是通过检测样品表面反射率的变化来测量器件表面的温度分布，设备具有高时间分辨率（100纳秒），高空间分辨率（300纳米）的特点，能够准确测量GaN HEMT等射频、微波功率器件，FinFET MOSFET 和 IGBT等功率器件，光电子器件的稳态和瞬态（脉冲模式下）热分布。
TMlR 高精度红外显微成像测温系统，以先进的中波制冷型红外热像仪为核心，配合专业测量分析软件，可清晰准确呈现微米级（空间分辨率1.5微米）微小结构的温度分布情况。系统已在器件可靠性分析和热管理方面有广泛的应用，例如IC器件结温测量、IGBT器件结温、第三代半导体器件GaN、SiC结温测量等。 E-LIT 半导体缺陷红外检测定位系统，配备优异的红外热像主机、以及先进锁相算法程序，使得系统可在最短测量时间里对半导体的缺陷进行非接触式、能可靠的检测出mk甚至uK的微弱温差，并显示缺陷的X、Y位置。系统在半导体失效分析中用于定位线路短路、ESD 缺陷、氧化损坏、缺陷晶体管和二极管以及器件闩锁等故障位置。 |
产品展示：  |
论文初稿提交截止时间
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2023年6月30日 2023年7月22日
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工业报告征集截止时间
(
2023年7月15日 2023年7月30日
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专题讲座征集截时间
(
2023年7月15日 2023年7月30日
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论文录用通知时间
( 2023年8月15日 )
论文终稿提交时间
( 2023年9月15日 )
报名系统开放时间
( 2023年8月16日 )
大会时间
( 2023年11月10-13日 )
